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推荐性国家标准现行

GB/T 24581-2022

硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法

Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method

发布:2022-03-09实施:2022-10-01
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