标准详细信息
以下字段已从官方标准详情页完成核验；空白字段以官方页面最新信息为准。
- 标准号
- GB/T 41064-2021
- 标准类型
- 推荐性国家标准
- 标准状态
- 现行
- 中国标准分类号（CCS）
- G04
- 国际标准分类号（ICS）
- 71.040.40
- 发布日期
- 2021-12-31
- 实施日期
- 2022-07-01
- 主管部门
- 中国科学院
- 归口部门
- 中国科学院
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
推荐性国家标准现行采用国际标准
GB/T 41064-2021
表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
Surface chemical analysis—Depth profiling—Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
发布：2021-12-31实施：2022-07-01
官方来源声明
标准号、名称、状态、日期、ICS/CCS 及部门信息来自国家标准全文公开系统。本站未复制官方品牌页面，也未下载标准文本。
核对官方最新信息