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推荐性国家标准现行

GB/T 32188-2015

氮化镓单晶衬底片x射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate

发布:2015-12-10实施:2016-11-01
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