检测服务需求对接平台
指导性技术文件现行采用国际标准

GB/Z 119-2026

晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测

C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test—Detection

发布:2026-01-04实施:待核对
官方来源声明

标准号、名称、状态、日期、ICS/CCS 及部门信息来自国家标准全文公开系统。本站未复制官方品牌页面,也未下载标准文本。

核对官方最新信息