检测服务需求对接平台
推荐性国家标准废止采用国际标准

GB/T 34326-2017

表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法

Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS

发布:2017-09-29实施:2018-08-01
官方来源声明

标准号、名称、状态、日期、ICS/CCS 及部门信息来自国家标准全文公开系统。本站未复制官方品牌页面,也未下载标准文本。

核对官方最新信息