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推荐性国家标准即将实施

GB/T 43894.3-2026

半导体晶片近边缘几何形态评价 第3部分:扇形区域平整度法(ESFQR、ESFQD、ESBIR)

Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 3:Sector area flatness(ESFQR,ESFQD,ESBIR)

发布:2026-07-02实施:2027-02-01
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