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推荐性国家标准现行

GB/T 6616-2023

半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法

Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge

发布:2023-08-06实施:2024-03-01
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