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推荐性国家标准现行

GB/T 43313-2023

碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法

Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics

发布:2023-11-27实施:2024-06-01
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