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推荐性国家标准即将实施采用国际标准

GB/T 4937.41-2026

半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分:非易失性存储器可靠性试验方法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices

发布:2026-02-27实施:2026-09-01
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