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GB/T 4937.44-2025

半导体器件 机械和气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

发布:2025-12-02实施:2026-07-01
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