标准详细信息
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- 标准号
- GB/T 45720-2025
- 标准类型
- 推荐性国家标准
- 标准状态
- 现行
- 中国标准分类号（CCS）
- L55
- 国际标准分类号（ICS）
- 31.080.01
- 发布日期
- 2025-05-30
- 实施日期
- 2025-09-01
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
- 归口部门
- 工业和信息化部（电子）
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
推荐性国家标准现行采用国际标准
GB/T 45720-2025
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿（TDDB）试验
Semiconductor devices—Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
发布：2025-05-30实施：2025-09-01
官方来源声明
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