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GB/T 4937.31-2023

半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 31:Flammability of platic-encapsulated devices(internally induced)

发布:2023-05-23实施:2023-12-01
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