标准详细信息
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- 标准号
- GB/T 45716.1-2026
- 标准类型
- 推荐性国家标准
- 标准状态
- 即将实施
- 中国标准分类号（CCS）
- L40
- 国际标准分类号（ICS）
- 31.080.30
- 发布日期
- 2026-04-30
- 实施日期
- 2026-11-01
- 主管部门
- 工业和信息化部（电子）
- 归口部门
- 工业和信息化部（电子）
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
推荐性国家标准即将实施采用国际标准
GB/T 45716.1-2026
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的偏置温度不稳定性试验 第1部分：MOSFETs的快速偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices—Bias-temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)—Part 1: Fast bias-temperature instability test for MOSFETs
发布：2026-04-30实施：2026-11-01
官方来源声明
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