用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法

Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

发布：2013-12-31实施：2014-08-15

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2013年第27号公告根据2017年第31号公告和推荐性国家标准复审结论，自2017年12月15日起,该标准废止。

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