推荐性国家标准现行
GB/T 43787-2024
曲面有机发光二极管（OLED）光源光学性能测试方法
Measuring methods of optical performance for curved organic light emitting diode (OLED) lighting
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.120
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电子学
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推荐性国家标准现行采标
GB/T 18910.4-2024
液晶显示器件 第4部分：液晶显示模块和屏 基本额定值和特性
Liquid crystal display devices—Part 4: Liquid crystal display modules and cells—Essential ratings and characteristics
- 实施日期
- 2024-03-15
- ICS 分类
- 31.120
推荐性国家标准现行采标
GB/T 18910.41-2024
液晶显示器件 第4-1部分：彩色矩阵液晶显示模块 基本额定值和特性
Liquid crystal display devices—Part 4-1: Matrix colour LCD modules—Essential ratings and characteristics
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.120
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43801-2024
微波频段覆铜箔层压板相对介电常数和损耗正切值测试方法 分离介质谐振器法
Measurement of relative permittivity and loss tangent for copper clad laminate at microwave frequency—Split post dielectric resonator method
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.180
推荐性国家标准现行
GB/T 43799-2024
高密度互连印制板分规范
Sectional specification for high density interconnect printed boards
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.180
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43590.502-2024
激光显示器件 第5-2部分：散斑对比度光学测量方法
Laser display devices—Part 5-2: Optical measuring methods of speckle contrast
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.120
指导性技术文件现行
GB/Z 43510-2023
集成电路TSV三维封装可靠性试验方法指南
Integrated circuit TSV 3D package reliability test methods guideline
- 实施日期
- —
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43493.3-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 3: Test method for defects using photoluminescence
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.080.99
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43493.2-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 2: Test method for defects using optical inspection
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.080.99
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43493.1-2023
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类
Semiconductor device—Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices—Part 1: Classification of defects
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.080.99
推荐性国家标准现行
GB/T 43594-2023
均匀光源通用规范
General specification for uniform light source
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.260
推荐性国家标准现行
GB/T 43530-2023
龙虾眼型聚焦光学元件性能测试方法
Test method of performance for lobster eye micro pore optics
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.260
推荐性国家标准现行
GB/T 43454-2023
集成电路知识产权（IP）核设计要求
Design requirements of integrated circuit intellectual property (IP) core
- 实施日期
- 2023-12-28
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43536.2-2023
三维集成电路 第2部分：微间距叠层芯片的校准要求
Three dimensional integrated circuits—Part 2：Alignment of stacked dies having fine pitch interconnect
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43536.1-2023
三维集成电路 第1部分：术语和定义
Three dimensional integrated circuit—Part 1：Terminologies and definitions
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43455-2023
模拟/混合信号知识产权（IP）核质量评测
Analog/mixed-signal intellectural property(IP)core quality evaluation
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43453-2023
模拟/混合信号知识产权（IP）核文档结构指南
Guideline for analog/mix-signal intellectual property(IP) core document structure
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43452-2023
模拟/混合信号知识产权（IP）核交付项要求
Requirements for analog/mixed-signal intellectual property(IP) core deliverables
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43538-2023
集成电路金属封装外壳质量技术要求
Quality and technical requirements for metal packages used for integrated circuits
- 实施日期
- 2024-07-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43590.102-2023
激光显示器件 第1-2部分：术语及文字符号
Laser display devices—Part 1-2：Vocabulary and letter symbols
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.120