推荐性国家标准现行采标
GB/T 42968.1-2023
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
STANDARD CATALOGUE
返回标准分类国家标准题录
组合使用关键词、标准类型、状态与 ICS 分类，快速定位所需国家标准。
STANDARD CATALOGUE
电子学
找到 1,403 条
推荐性国家标准现行
GB/T 42969-2023
元器件位移损伤试验方法
Displacement damage test method for components
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 42970-2023
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43186.2-2023
有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第2部分：使用指南
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality—Part 2:Guidelines for the use
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.140
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43186.1-2023
有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第1部分 ：总规范
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave(BAW) duplexers of assessed quality—Part 1:Generic specification
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.140
推荐性国家标准现行
GB/T 42977-2023
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Optical reliability assessment for quantum dot enabled light conversion film
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.120
推荐性国家标准现行
GB/T 42976-2023
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display— Measurement of optical performance for quantum dot enabled light conversion film
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.120
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43034.3-2023
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43035-2023
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
- 实施日期
- 2023-09-07
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43063-2023
集成电路 CMOS图像传感器测试方法
Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 42972-2023
微波电路 检波器测试方法
Microwave circuits—Test methods for detector
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43040-2023
半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of AC/DC converters
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43061-2023
半导体集成电路 PWM控制器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43041-2023
混合集成电路 直流/直流（DC/DC）变换器
Hybrid integrated circuits—DC/DC converter
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 42973-2023
半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器
Semiconductor integrated circuits—Digital-analog（DA）converter
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 42974-2023
半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）
Semiconductor integrated circuits—Flash memory(FLASH)
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 43027-2023
高压电源变换器模块测试方法
Measuring methods of converter modules for high voltage input power supplies
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 42975-2023
半导体集成电路 驱动器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 43023-2023
射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南
Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF)
- 实施日期
- 2024-01-01
- ICS 分类
- 31.140
推荐性国家标准现行
GB/T 43059-2023
印制板及印制板组装件的平整度控制要求
Requirements of flatness control for printed boards and printed board assemblies
- 实施日期
- 2024-04-01
- ICS 分类
- 31.180