推荐性国家标准现行
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
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电子学
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推荐性国家标准现行
GB/T 35010.3-2018
半导体芯片产品 第3部分：操作、包装和贮存指南
Semiconductor die products—Part 3: Guide for handling, packing and storage
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35009-2018
串行NAND型快闪存储器接口规范
Specification for serial NAND flash interface
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 14028-2018
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35010.1-2018
半导体芯片产品 第1部分：采购和使用要求
Semiconductor die products—Part 1：Requirements for procurement and use
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
Microwave circuits—Measuring methods for voltage controlled oscillater
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35010.7-2018
半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式
Semiconductor die products—Part 7: XML schema for data exchange
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
Test methods for flip chip integrated circuits
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35001-2018
微波电路 噪声源测试方法
Microwave circuits—Measuring methoels for noise source
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35002-2018
微波电路 频率源测试方法
Microwave circuits—Measuring methods for frequency source
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35003-2018
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35004-2018
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范
Logic digital integrated circuits—Specification for I/O interface model for integrated circuit
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35010.5-2018
半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求
Semiconductor die products—Part 5：Requirements for concerning electrical simulation
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35006-2018
半导体集成电路 电平转换器测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of level converter
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35007-2018
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 35008-2018
串行NOR型快闪存储器接口规范
Specification for serial NOR flash interface
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式
Semiconductor die products—Part8: EXPRESS model schema for data exchange
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35010.6-2018
半导体芯片产品 第6部分：热仿真要求
Semiconductor die products—Part 6: Requirements for concerning thermal simulation
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 35010.2-2018
半导体芯片产品 第2部分：数据交换格式
Semiconductor die products—Part 2: Exchange data formats
- 实施日期
- 2018-08-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行采标
GB/T 22319.11-2018
石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 11:Standard method for the determination of the load resonance frequency fL and the effective load capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques and error correction
- 实施日期
- 2018-10-01
- ICS 分类
- 31.140