推荐性国家标准现行
GB/T 32277-2015
硅的仪器中子活化分析测试方法
Test method for instrumental neutron activation analysis (INAA) of silicon
- 实施日期
- 2017-01-01
- ICS 分类
- 29.045
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半导体材料
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推荐性国家标准现行
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
Specification for order entry format of silicon wafers
- 实施日期
- 2017-01-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 31854-2015
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
Test method for measuring metallic impurities content in silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry
- 实施日期
- 2016-03-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料
Requirements for solders for high-quality interconnections in electronics assembly
- 实施日期
- 2016-01-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 31475-2015
电子装联高质量内部互连用焊锡膏
Requirements for solder paste for high-quality interconnections in electronics assembly
- 实施日期
- 2016-01-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 31474-2015
电子装联高质量内部互连用助焊剂
Soldering fluxes for high-quality interconnections in electronics assembly
- 实施日期
- 2016-01-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30656-2014
碳化硅单晶抛光片
Polished monocrystalline silicon carbide wafers
- 实施日期
- 2015-09-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30652-2014
硅外延用三氯氢硅
Trichlorosilane for silicon epitaxial
- 实施日期
- 2015-09-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 12963-2014
电子级多晶硅
Electronic-grade polycrystalline silicon
- 实施日期
- 2015-09-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 13389-2014
掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
Practice for conversion between resistivity and dopant density for boron-doped, phosphorus-doped, and arsenic-doped silicon
- 实施日期
- 2015-09-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 31092-2014
蓝宝石单晶晶锭
Monocrystalline sapphire ingot
- 实施日期
- 2015-09-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 2881-2014
工业硅
Silicon metal
- 实施日期
- 2015-08-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 30861-2014
太阳能电池用锗衬底片
Germanium substrate for solar cell
- 实施日期
- 2015-04-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30858-2014
蓝宝石单晶衬底抛光片
Polished mono-crystalline sapphire substrate product
- 实施日期
- 2015-04-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30856-2014
LED外延芯片用砷化镓衬底
GaAs substrates for LED epitaxial chips
- 实施日期
- 2015-04-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 30855-2014
LED外延芯片用磷化镓衬底
GaP substrates for LED epitaxial chips
- 实施日期
- 2015-04-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 30854-2014
LED发光用氮化镓基外延片
Gallium nitride based epitaxial layer for LED lighting
- 实施日期
- 2015-04-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30868-2014
碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
Test method for measuring micropipe density of monocrystalline silicon carbide wafers―Chemically etching
- 实施日期
- 2015-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30867-2014
碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers
- 实施日期
- 2015-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 30866-2014
碳化硅单晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
- 实施日期
- 2015-02-01
- ICS 分类
- 29.045