推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.21-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分：可焊性
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 21: Solderability
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
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电子学
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推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.20-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分：塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.201-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20-1部分：对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作、包装、标志和运输
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 20-1: Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.19-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 19: Die shear strength
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.18-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第18部分：电离辐射(总剂量)
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 18: Ionizing radiation (total dose)
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.17-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 17: Neutron irradiation
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.15-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第15部分：通孔安装器件的耐焊接热
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.14-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第14部分：引出端强度（引线牢固性）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 14: Robustness of terminations（lead integrity）
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.13-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第13部分：盐雾
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 13: Salt atmosphere
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 12: Vibration, variable frequency
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行采标
GB/T 4937.11-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分：快速温度变化 双液槽法
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 11: Rapid change of temperature—Two-fluid-bath method
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.080.01
推荐性国家标准现行
GB/T 36655-2018
电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.030
推荐性国家标准现行
GB/T 36652-2018
TFT混合液晶材料规范
Specification for TFT liquid crystal mixtures
- 实施日期
- 2019-04-01
- ICS 分类
- 31.030
推荐性国家标准现行
GB/T 36648-2018
TFT单体液晶材料规范
Specification for TFT liquid crystal monomers
- 实施日期
- 2019-04-01
- ICS 分类
- 31.030
推荐性国家标准现行
GB/T 36647-2018
普通单体液晶材料规范
Specification for liquid crystal monomers
- 实施日期
- 2019-04-01
- ICS 分类
- 31.030
推荐性国家标准现行
GB/T 36646-2018
制备氮化物半导体材料用氢化物气相外延设备
Equipment for preparation of nitride semiconductor materials by hydride vapor phase epitaxy
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.220
推荐性国家标准现行采标
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
Integrated circuits—Memory devices pin configuration
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.200
推荐性国家标准现行
GB/T 36613-2018
发光二极管芯片点测方法
Probe test method for light emitting diode chips
- 实施日期
- 2019-01-01
- ICS 分类
- 31.260
推荐性国家标准现行
GB/T 36595-2018
纳米钛酸钡
Nanoscale barium titanate
- 实施日期
- 2019-06-01
- ICS 分类
- 31.030
推荐性国家标准现行采标
GB/T 15879.5-2018
半导体器件的机械标准化 第5部分：用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值
Mechanical standardization of semiconductor devices—Part 5: Recommendations applying to tape automated bonding(TAB) of integrated circuits
- 实施日期
- 2019-04-01
- ICS 分类
- 31.200