推荐性国家标准废止
GB/T 14863-2013
用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
- 实施日期
- 2014-08-15
- ICS 分类
- 29.045
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半导体材料
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推荐性国家标准现行
GB/T 30453-2013
硅材料原生缺陷图谱
Metallographs collection for original defects of crystalline silicon
- 实施日期
- 2014-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
Test method for measuring Phosphorus, Arsenic and Antimony in silicon materials used for photovoltaic applications by secondary ion mass spectrometry
- 实施日期
- 2014-04-15
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29851-2013
光伏电池用硅材料中B、Al受主杂质含量的二次离子质谱测量方法
Test method for measuring Boron and Aulminium in silicon materials used for photovoltaic applications by secondary ion mass spectrometry
- 实施日期
- 2014-04-15
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29850-2013
光伏电池用硅材料补偿度测量方法
Test method for measuring compensation degree of silicon materials used for photovoltaic applications
- 实施日期
- 2014-04-15
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29849-2013
光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
Test method for measuring surface metallic contamination of silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry
- 实施日期
- 2014-04-15
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29508-2013
300mm 硅单晶切割片和磨削片
300mm monocrystalline silicon as cut slices and grinded slices
- 实施日期
- 2014-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29506-2013
300mm 硅单晶抛光片
300mm polished monocrystalline silicon wafers
- 实施日期
- 2014-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29504-2013
300mm 硅单晶
300mm monocrystalline silicon
- 实施日期
- 2014-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29507-2013
硅片平整度、厚度及总厚度变化测试 自动非接触扫描法
Test method for measuring flatness, thickness and total thickness variation on silicon wafers by automated non-contact scanning
- 实施日期
- 2014-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 29505-2013
硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
Test method for measuring surface roughness on planar surfaces of silicon wafer
- 实施日期
- 2014-02-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 29055-2012
太阳电池用多晶硅片
Multi-crystalline silicon wafer for solar cell
- 实施日期
- 2013-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 29054-2012
太阳能级铸造多晶硅块
Solar-grade casting multi-crystalline silicon brick
- 实施日期
- 2013-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止采标
GB/T 29057-2012
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy
- 实施日期
- 2013-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 26072-2010
太阳能电池用锗单晶
Germanium single crystal for solar cell
- 实施日期
- 2011-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 26071-2010
太阳能电池用硅单晶切割片
Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells
- 实施日期
- 2011-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 26069-2010
硅退火片规范
Specification for silicon annealed wafers
- 实施日期
- 2011-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 26065-2010
硅单晶抛光试验片规范
Specification for polished test silicon wafers
- 实施日期
- 2011-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准废止
GB/T 26068-2010
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
- 实施日期
- 2011-10-01
- ICS 分类
- 29.045
推荐性国家标准现行
GB/T 26067-2010
硅片切口尺寸测试方法
Standard test method for dimensions of notches on silicon wafers
- 实施日期
- 2011-10-01
- ICS 分类
- 29.045